Experimental Investigation on the Transient Switching Behavior of SiC MOSFETs Using a Stage-Wise Gate Driver

New York, NY / IEEE (2018) [Fachzeitschriftenartikel]

CPSS transactions on power electronics and applications
Band: 3
Ausgabe: 1
Seite(n): 77-87

Autorinnen und Autoren

Autorinnen und Autoren

Engelmann, Georges
Senoner, Tizian
de Doncker, Rik W.

Identifikationsnummern