Comparison of Fast and Reliable Zero-Voltage Detection Topologies

New York, NY / IEEE (2020) [Fachzeitschriftenartikel]

IEEE transactions on industry applications : IA
Band: 56
Ausgabe: 5
Seite(n): 5212-5221

Autorinnen und Autoren

Beushausen, Steffen
Krolzik, Jonas
Joebges, Philipp
Voss, Johannes
de Doncker, Rik W.