IGBT Junction Temperature Estimation via Gate Voltage Plateau Sensing

van der Broeck, Christoph Henrik (Corresponding author); Gospodinov, Alexander; de Doncker, Rik W.

New York, NY : IEEE (2018)
Fachzeitschriftenartikel

In: IEEE transactions on industry applications
Band: 54
Heft: 5
Seite(n)/Artikel-Nr.: 4752-4763

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