Semiconductor Temperature and Condition Monitoring using Gate Driver Integrated Inverter Output Voltage Measurement

Schubert, Michael (Corresponding author); de Doncker, Rik W.

IEEE (2018)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: 2018 International Symposium on Power Electronics, Electrical Drives, Automation and Motion (SPEEDAM)
Seite(n)/Artikel-Nr.: 148-153

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