Toward an In-Depth Understanding of the Commutation Processes in a SiC mosfet Switching Cell Including Parasitic Elements

New York, NY / IEEE (2020) [Fachzeitschriftenartikel]

IEEE transactions on industry applications : IA
Band: 56
Ausgabe: 4
Seite(n): 4089-4101

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Fritz, Niklas
Engelmann, Georges
Stippich, Alexander
Lüdecke, Christoph
Philipps, Daniel A.

Weitere Autorinnen und Autoren

de Doncker, Rik W.