Toward an In-Depth Understanding of the Commutation Processes in a SiC mosfet Switching Cell Including Parasitic Elements
New York, NY / IEEE (2020) [Fachzeitschriftenartikel]
IEEE transactions on industry applications : IA
Band: 56
Ausgabe: 4
Seite(n): 4089-4101
Autorinnen und Autoren
Ausgewählte Autorinnen und Autoren
Fritz, Niklas
Engelmann, Georges
Stippich, Alexander
Lüdecke, Christoph
Philipps, Daniel A.
Weitere Autorinnen und Autoren
de Doncker, Rik W.
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1109/TIA.2020.2995331
- REPORT NUMBER: RWTH-2020-08155