Semiconductor Temperature and Condition Monitoring Using Gate-Driver-Integrated Inverter Output Voltage Measurement

New York, NY / IEEE (2020) [Fachzeitschriftenartikel]

IEEE transactions on industry applications
Band: 56
Ausgabe: 3
Seite(n): 2894-2902

Autorinnen und Autoren

Autorinnen und Autoren

Schubert, Michael
de Doncker, Rik W.

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